Gerätedetails

Röntgenmikroskop
nanome|x
Mikroskop
Röntgengerät
Diagnostik
Zerstörungsfreie Prüfung
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
  • Zerstörungsfreie Inspektion von Bauelementen und Baugruppen, insbesondere mit kontrastreichen Materialien (Lotwerkstoffe, Metallisierungen etc.)
  • Fehleranalyse und Defektsuche
  • Qualitätskontrolle
  • Inspektion verdeckter Verbindungsstellen
  • Analyse von Aufbauten
  • Vollschutz-Röntgengerät nach RÖV
  • Hochauflösende Senkrecht- und Schrägdurchstrahlung bis 70°
  • Offene nanofocusTM-Röhre mit Diamanttarget
  • Beschleunigungsspannung 10 - 160 kV / 15 W, Strahlstrom 5 - 880 µA
  • Probenmanipulation 5 Achsen
  • Hochauflösende Echtzeitbildkette und alternativ Digitaldetektor
  • CCD-Kamera 1126 x 1600 Pixel, 12 Bit
  • Digitaldetektor 1000 x 1000 Pixel, 14 Bit
  • Geometrische Vergrößerung > 1.000-fach
  • Minimale Detailerkennbarkeit: 400 nm
  • Zusatzoption Laminografie (Schichttomografie)
  • Zusatzoption Tomografie
Oppermann, Martin, PD Dr.-Ing. habil.
T: (0351) 463 35051
WHB E35

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